结合μsurf技术的多传感器组合NanoFocus共聚焦显微镜的μsurf面扫描测量技术可与μscan线扫描测量技术相结合。
在现在的精密影像检测行业中,不管是二次元还是三次元影像仪,手动机台已经慢慢的被自动影像仪所取代,那么,相比于手动,全自动在应用中有哪些优势呢?
NanoFocus的μsurf面扫描测量技术可与μscan线扫描测量技术相结合。μsurf custom机型作为多传感器系统,是这种综合测量需求的首选。NanoFocus的两种工业优势技术组成综合3D表面测量系统,满足各种测量任务。
NanoFocus中μscan系列共聚焦显微镜基于μsoft automation系统,客户很容易实现自动化的定制测量和专项分析。可以定义测量方式并储存在数据库中(不限数量);预先定义的测量参数存储。一下为μscan系列共聚焦显微镜的独特优势。
Nanofocus中μsan系列的μsoft平台—功能强大的软件丰富的解决方案,为您产品样品检测省时,省力,省心,操作简便,测量精确。
NanoFocus同样可以为用户定制对测量数据进行进一步处理的专用插件。该软件有标准版、扩展版和专业版。更多专用模块(如统计评估)可供选择。
Nanofocus便捷的μsoft metrology测量和控制软件保证测量的高效执行。利用μsoft metrology,所有传感器和全景相机可以方便地在同一用户界面中进行控制。
共聚焦显微镜光学系统显微镜是激光共聚焦显微镜的主要组件,它决定了系统的成像质量,当然它们并不能完全体现传统共聚焦的功能及灵活扩展性。
现代高质量共聚焦显微镜均可安装显微照相的各种附件,可以及时完整地保留科学资料。
用户应选用精度(包括重复精度)高一些的OPTEK自动影像仪。这不仅由于测量复杂件时,测点可能带入的误差比预想的要大(由于测头测杆变化或加长会引入更大的误差),而且测量机的精度会随使用次数增多而有所下降。
μsprint共聚焦显微镜(全自动晶元检测系统)是专门为半导体产业的bump检测而设计。最大能够自动检测八寸晶元。bump的高度、直径、体积、形状以及平面度都能得到纳米级精度的量测。
Nanofocus激光共聚焦显微镜采用独特的微打孔悬臂近场针尖获得低于衍射极限的光学分辨率;模块化,可与共焦拉曼、原子力显微镜集合在一台仪器,通过物镜转轮在不同的模式之间转换,无需转移或接触样品。
由于Nanofocus共聚焦显微镜使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更精确量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。
NanoFocus μsurf explorer共聚焦显微镜精密测量、表面分析系统机台功能齐全,结构紧凑,性价比高,并拥有超高光学分辨率和最全面广泛的三维表面形貌分析能力。
激光共聚焦显微镜(http://www.megphy.com)是在荧光显微镜成像基础上配置激光光源和扫描装置,在传统光学显微镜基础上采用共轭聚焦装置,利用计算机进行图像处理,对观察样品进行断层扫描和成像,是一种高敏感度与高分辨率的显微镜。
多孔盘上针孔的随机分布,从原理上防止了两个相邻点在同一时间段的测量。与传统的直线扫描相比,散射光干扰、人为误差以及机器测量缺陷得以客服。
2014年4月8日到10日,NanoFocus在底特律参加美国汽车工程师学会世界代表大会并取得巨大反响。NanoFocus主要从事光学3D表面测量技术的研发和生产。
随着科学技术的发展,国内外法庭科学领域都采用立体显微镜或者比较显微镜作为勘察痕迹的主要检测仪器。
自动影像仪运行速度与采样速度既是测量机效率高低的重要指标,又与自动化生产的要求密切相关。用于生产线或柔性加工线上的测量机,检测的时间必须满足生产节拍的要求。
用户应选用精度(包括重复精度)高一些的OPTEK自动影像仪。这不仅由于测量复杂件时,测点可能带入的误差比预想的要大(由于测头测杆变化或加长会引入更大的误差),而且测量机的精度会随使用次数增多而有所下降。