共聚焦显微镜,兼容符合国际标准的接触式粗糙度测量——NanoFocus

使用HD拼接功能（自动图像编译），多幅独立图像可以合并为衣服大视野的全貌图像。可将多大100幅（约3千万个测量点）全分辨率图像合并为一幅。图像事业可以灵活选择，拼接过程由软件配合电动X/Y/Z轴自动完成。

精准的粗糙度轮廓曲线是NanoFocus共聚焦显微镜测量技术的核心。在工业应用领域，兼容符合标准的接触式粗糙度测量方式非常重要。

HD特点

测量点密度

与其他测量方法相比，μsurf技术在拼接模式下并不减少测量点的数量；尽管如此，它仍然明显比传统技术耗时更少。这种优势在做大面积拼接时尤为明显。

精确定位

集成的光栅尺保证了高精度定位，因此确保拼接不失真。

形状追踪

自动测量范围追踪无需预先设置即可对凸面、凹面，以及波形面进行追踪拼接。一次自动预扫描之后，表面追踪功能将会在单次测量中自动执行，无需二次扫描。智能形状追踪技术可使测量时间最多缩短7倍。

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