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共聚焦显微镜,测量过程中如何控制产品的测量误差,NanoFocus共聚焦显微镜

发布于 2015年07月17日

[摘要]在使用共聚焦显微镜对物件表面粗糙度进行检测之际,如何控制产品的误差,产品的轮廓、粗糙度、几何形状误差等。
在使用共聚焦显微镜对物件表面粗糙度进行检测之际,如何控制产品的误差,产品的轮廓、粗糙度、几何形状误差等。这一些列的熟悉而又无法明确的名词,如何利用合适的共聚焦显微镜测量出理想的数据,上海曼戈斐光学(***)为您浅谈一二。
表面粗糙度是指加工表面上具有的较小间距的峰谷所组成的微观几何形状特性。
表面结构分为:
a.粗糙度(波距小于1mm)
b.波纹度(波距在1-10mm)
c.形状误差(波距大于10mm)
粗糙度的大小对零件的性能影响很大,主要体现在耐磨性,疲劳强度和抗腐蚀性等方面,因此应用最为广泛。

表面结构与粗糙度的图解如下:

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上海曼戈斐光学技术有限公司主营产品:共聚焦显微镜,全自动影像仪,全自动晶元检测系统,太阳能表面检测系统,自动影像仪,共聚焦显微镜,光学测量仪,便携式共聚焦显微镜,白光共聚焦显微镜,激光共聚焦显微镜,3D共聚焦显微镜。
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