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共聚焦显微镜,测试、实验必备的非接触性测量系统—NanoFocus,便携式共聚焦显微镜

发布于 2015年06月26日

[摘要]µsurf expert共聚焦显微镜实验室非接触性测量系统是一套完全为测试以及实验设备的开发而优化的系统,满足非接触性测量行业内最高的要求。

µsurf expert共聚焦显微镜实验室非接触性测量系统是一套完全为测试以及实验设备的开发而优化的系统,满足非接触性测量行业内最高的要求。

      测量系统配备有高精度的传感器,与位于x,y,z轴向的线性编码器以及诸多的自动化选项,usurf expert提供最高级别的操作舒适感,这一切都归功于手动的z轴调节以及领先的人体工学设计。 客户可自由切换选择 用户主导模式或是全自动选项,此项功能在最简洁的操作中保证了测量的质量与精度。
光学三维表面检测的新标准
      根据usurf expert测定原理可以检测粗糙度,几何形状,平整度,磨损度,轴承比率和进一步的参数可以按照国际标准例如ISO25178和ISO4287测定。触觉计量学相比,三维测量的表面结构提供了定量的信息使人们有可能获得更多的有意义的结果。与此同时,具有高焦深的显微图像生成最佳的文档。
      超细粗糙结构的轮廓精确地再现代表了NanoFocus开发的核心质量标准共焦测量技术。这是应用程序的测试实验室和质量控制测量设备的必要前提。


公司主营产品:共聚焦显微镜,全自动影像仪,全自动晶元检测系统,太阳能表面检测系统,自动影像仪,共聚焦显微镜,光学测量仪。

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