上海专业注射针测试仪销售商告诉你测试技术应用前景分析

发布于 2013年04月01日

[摘要]测试技术应用前景分析.因为每一种技术都补偿另一技术的缺点：从将AXI技术和ICT技术结合起来测试的情况来看,一方面,X射线主要集中在焊点的质量.它可确认元件是否存在,但不能确认元件是否正确,方向和数值是否正确.

测试技术应用前景分析.因为每一种技术都补偿另一技术的缺点：从将AXI技术和ICT技术结合起来测试的情况来看,一方面,X射线主要集中在焊点的质量.它可确认元件是否存在,但不能确认元件是否正确,方向和数值是否正确.另一方面,ICT可决定元件的方向和数值但不能决定焊接点是否可接受,特别是焊点在封装体底部的元件,如BGA、CSP等.随着AXI技术的发展,目前AXI系统和ICT系统可以互相对话,这种被称为“AwareTest”的技术能消除两者之间的重复测试部分.通过减小ICT/AXI多余的测试覆盖面可大大减小ICT的接点数量.这种简化的ICT测试只需原来测试接点数的30%就可以保持目前的高测试覆盖范围,而减少ICT测试接点数可缩短ICT测试时间、加快ICT编程并降低ICT夹具和编程费用.