[摘要]鹤壁市顺达矿山设备有限公司主要生产出售矿用提升绞车,矿用提升机,租赁二手绞车,二手提升机,质量有保证,信誉可靠,欢迎洽谈,手机:*** 联系人:刘经理
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存储器测试的目的是确认在存储设备中的每一个存储位置都在工作。换一句话说,如果你把数50存储在一个具体的地址,你希望可以找到存储在那里的那个数,直到另一个数写入。任何存储器测试的基本方法是,往存储器写入一些数据,然后根据内存设备的地址,校验读回的数据。如果所有读回的数据和那些写入的数据是一样的,那么就可以说存储设备通过了测试。只有通过认真选择的一组数据你才可以确信通过的结果是有意义的。
当然,像刚才描述的有储器的测试不可避免地具有破坏性。在内存测试过程中,你必须覆盖它原先的内容。因为重写非易失性存储器内容通常来说是不可行的,这一部分描述的测试通常只适用于RAM 的测试。
普通的存储器问题:在学习具体的测试算法之前,你应该了解可能遇到的各种存储器问题。在软件工程师中一个普遍的误解是,大部分的存储器问题发生在芯片的内部。尽管这类问题一度是一个主要的问题,但是它们在日益减少。存储设备的制造商们对于每一个批量的芯片都进行了各种产品后期测试。因此,即使某一个批量有问题,其中某个坏芯片进人到你的系统的可能性是微乎其微的。
你可能遇到的一种类型的存储芯片问题是灾难性的失效。这通常是在加工好之后芯片受到物理或者是电子损伤造成的。灾难性失效是少见的,通常影响芯片中的大部分。因为一大片区域受到影响,所以灾难性的失效当然可以被合适的测试算法检测到。
存储器出问题比较普遍的原因是电路板故障。典型的电路板故障有:
(1)在处理器与存储设备之间的连线问题
(2)无存储器芯片
(3)存储器芯片的不正确插人